北京羲和陽(yáng)光科技發(fā)展有限公司
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詳細(xì)摘要： 太陽(yáng)能多晶硅晶片和單晶硅晶片的生產(chǎn)過程涉及到機(jī)械，濕化學(xué)，熱學(xué)和電子物理過程，從硅碇上切割下的晶片，進(jìn)行蝕刻，摻雜。所有這些工藝過程，以及工藝間的晶片搬運(yùn)，都會(huì)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-08-03 在線留言
詳細(xì)摘要： 實(shí)現(xiàn)對(duì)太陽(yáng)能硅塊快速、無接觸的缺陷檢測(cè)。檢測(cè)的缺陷類型包括： 裂紋和空洞、SiC雜質(zhì)、 微晶聚集結(jié)構(gòu)、金屬沉淀。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-08-03 在線留言
詳細(xì)摘要： 隨著多晶硅，硅片，太陽(yáng)能電池片工藝的不斷發(fā)展與提高，光伏產(chǎn)業(yè)對(duì)硅片及電池片質(zhì)量的檢測(cè)要求越來越高。本儀器專門用于對(duì)硅片以及太陽(yáng)能電池片的顯微質(zhì)量檢測(cè)，檢測(cè)結(jié)果快...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2017-12-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 太陽(yáng)電池缺陷檢測(cè)儀是依據(jù)太陽(yáng)電池的電致發(fā)光原理而研制的用于太陽(yáng)電池組件內(nèi)部缺陷檢測(cè)的儀器。根據(jù)太陽(yáng)電池、組件中電池片發(fā)光亮度的差異清楚地顯示組件中的裂片（包括隱...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2017-12-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 通過本儀器可以清晰地呈現(xiàn)組件的熱斑，擁有高分辨率、高精度，配帶專業(yè)的軟件分析系統(tǒng)，可對(duì)任何測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行精準(zhǔn)的測(cè)量分析。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2017-12-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 該半導(dǎo)體器件性能表征系統(tǒng)是一個(gè)可以提供精密電流源、電壓源和測(cè)試功能的測(cè)試系統(tǒng)，為半導(dǎo)體器件和測(cè)試結(jié)構(gòu)的直流參數(shù)測(cè)試、實(shí)時(shí)繪圖與分析提供了一套完整的方案，具有高精...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2017-11-13 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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